300.00
透射电子显微镜(TEM)
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1. 粉体、液体、可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)。

2. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小)。

3. 一般制样选普通铜网或微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;若样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等。

4. 强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;请务必仔细检查您的样品,若发现以弱磁强磁充当非磁或者以强磁充当弱磁,若造成设备损坏,维修费用须由您全部承担

5. 粉末提供5-10mg,液体提供0.5-1ml即可,不建议提供较多样品,该项目测试会有消耗,粉末、液体不建议回收!


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科研树
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